Over ons

tascon GmbH begon in 1997 als een gespecialiseerd laboratorium voor Time-of-Flight Secondaire Ionen Massaspectrometrie (ToF-SIMS). Sindsdien heeft het bedrijf zich niet alleen ontwikkeld tot een internationaal toonaangevend laboratorium voor deze technologie, maar het heeft ook voortdurend bijgedragen aan de ontwikkeling van ToF-SIMS. In ons lab vindt u een combinatie van state-of-the-art instrumenten en toepassingskennis die uniek is in de wereld. Aan het eind van 2008 hebben we onze activiteiten uitgebreid naar Low Energy Ion Scattering (LEIS). In de zomer van 2009 hebben we een instrument opgestart voor de optische karakterisering van oppervlaktetopografie (witlichtinterferometrie, confocale microscopie). En sinds januari 2010 heeft X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) onze instrumentportefeuille verbreed. Dat geeft ons de mogelijkheid om oppervlakken goed te karakteriseren met een variabele informatiediepte. Mocht dat nodig zijn, dan hebben we de beschikking over meer oppervlakte- en nanoanalytische technieken die we aanbieden in samenwerking met partnerlaboratoria.

Op dit moment werkt een staf van 15 hoog gekwalificeerde medewerkers (waaronder 10 academici) aan de uitdagingen van onze klanten. Vanwege de verscheidenheid in de vragen van onze klanten zijn een brede achtergrond en ervaring belangrijk voor ons. Onze staf beslaat dan ook de vakgebieden natuur- en scheikunde, scheikundige technologie, biologie, biochemie en geologie. Zij worden voortdurend verder opgeleid en houden de kennis van het bedrijf up-to-date, niet alleen waar het gaat om de analysetechnieken, maar ook vanuit het perspectief van produktietechnologieën.

tascon GmbH is een onafhankelijke onderneming in privaateigendom.