Analyse van elektronische componenten

Vanwege de grote verscheidenheid aan materialen en de complexe productiemethoden is het karakteriseren van halfgeleiders en elektronische componenten en bouwelementen een analytische uitdaging. Precies door deze complexiteit kunnen oppervlakteanalyse technieken een rol van betekenis spelen in ontwikkeling, productie en kwaliteitscontrole. De volgende onderwerpen kunnen met succes aangepakt worden:

  • Karakterisering van grondstoffen (halfgeleiders, polymeren & harsen, keramiek, …)
  • Effektiviteit van processtappen (bijv. standtijd van reinigingsbaden)
  • Bepalen van laagstructuren
  • Hechtingseigenschappen (bijv. bij solderen)
  • Testen van de lucht in de clean room (bijv. voor organische verbindingen)
  • Bronnen voor de vorming van vlekken, aanslag en resten (bijv. na etsstappen)
  • Testen van implanteringsprofielen (bijv. B in Si)
  • “Defect Review“, ...

 

Voorbeelden van toepassingen