SEM image of an SFM tip

Scanning Force Microscopy (SFM)

Scanning Force Microscopie (SFM) is een nanoanalytische methode om de oppervlaktetopografie te bepalen. Hiermee is het ook mogelijk om mechanische eigenschappen (zoals hardheid) op lokaal niveau te bepalen. Het hart van zo'n microscoop wordt gevormd door de nanoscopische tip. Deze tip is gemonteerd op een bladveer en tast het monster af. De wisselwerking tussen het oppervlak en de tip leidt tot een verbuiging van de bladveer die met optische methoden geregistreerd kan worden. Op deze manier kan de oppervlaktetopografie weergegeven worden in een beeld op micrometer- of nanometerschaal. Er worden nauwelijks eisen gesteld aan het monster voor een analyse met Scanning Force Microscopie. Zelfs zachte oppervlakken zoals cellen in een bufferoplossing kunnen worden afgebeeld door een juiste keuze van de meetmethode (bijvoorbeeld tapping mode, ...).

Door de tip te veranderen kunnen ook andere fysieke eigenschappen dan oppervlaktetopografie worden bepaald. Zo is een aantal andere scanning probe technieken ontwikkeld, zoals:

  • Magnetic Force Microscopy (MFM)
  • Chemical Force Microscopy (CFM)
  • Scanning Capacitance Microscopy (SCM)

Synoniemen / Verwante technieken

  • Atomic Force Microscopy (AFM)
  • Atoomkrachtmicroscopie