tascon aktuell

September 2012

Einführungsseminar ToF-SIMS während der SIMS Europe 2012

Die Flugzeitsekundärionenmassenspektrometrie (ToF-SIMS) ist eines der leistungsfähigsten Analyseverfahren in der modernen Oberflächenanalytik. In Kooperation mit den Veranstaltern der SIMS Europe bietet die Tascon eine ganztägige Einführung in das ToF-SIMS Verfahren an. Das Seminar wird am 09.09.2012 ab 09:15 im Hörsaal des Physikalischen Instituts der Universität Münster durchgeführt und in die Grundlagen und Applikationen der ToF-SIMS einführen. Das Programm richtet sich bewusst an ToF-SIMS interessierte Einsteiger. Die Teilnahme an dieser Einführungsveranstaltung ist für Teilnehmer der SIMS Europe (Tagungsgebühr 100€) kostenfrei. Nähreres unter: SIMS Europe 2012

Juli 2012

Neuartige Ar-Cluster-Quelle (GCIB) für organische Tiefenprofilierung installiert

War es bislang praktisch unmöglich, die Tiefenverteilung organischer Bestandteile durch ein SIMS-Tiefenprofil zu erfassen, ist dies nun durch Einsatz von großen Molekül-Clustern als Beschussionen (z.B. Arn+, n=500…4000) möglich geworden. Die neue Technologie wird auch als Ar-Clusterquelle oder GCIB (Gas cluster ion beam) bezeichnet.

Bei der tascon steht ab sofort ein GCIB für den Routineeinsatz zur Verfügung. Gleichzeitig haben wir unseren ToF-SIMS-Gerätepark aktualisiert und ein Gerät für 200 mm-Probengrößen in Betrieb genommen.

Durch Einsatz von Argonclustern gelingt beispielsweise die chemische Charakterisierung und Schichtstrukturaufklärung organischer Leuchtdioden. Weitere Einsatzgebiete neben der Photovoltaik sind die Charakterisierung organische Beschichtungen (Lacke, Coatings), Polymere und Pharmazeutika. Auch können organische Verschmutzungen zukünftig vor einer Analyse durch Einsatz von Ar-Clusterionen abgetragen werden.

Sind Sie interessiert mehr über die neuen analytischen Möglichkeiten zu erfahren? Wenn ja, scheuen Sie sich nicht, uns zu kontaktieren

Oktober 2011

"Kleben in der Mikrofertigung"

Klebprozesse sind wesentlicher Bestandteil vieler Fertigungsabläufe. Im Rahmen des diesjährigen  OTTI-Fachforums "Kleben in der Elektronik" wird Dr. Hektor Hebert über die Besonderheiten von Klebeprozessen aus der Sicht eines Analytikdienstleisters berichten. Der Vortrag wird u.a. zeigen, wie Klebeprozesse durch den gezielten Einsatz analytischer Methoden optimiert und Ursachen fehlerhafter Verklebungen ermittelt werden können.

August 2011

Treffen Sie uns auf der Internationalen SIMS Konferenz

Vom 18. bis 23. September findet in Riva del Garda die 18. internationale SIMS-Konferenz statt (www.simsxviii.org/). Dr. Birgit Hagenhoff und Dr. Reinhard Kersting werden dort über unsere Untersuchungen an nanoskaligen Systemen berichten. Sie  freuen sich auch über Ihren Besuch auf dem tascon-Stand (Booth 12).

August 2011

Treffen Sie uns auf der ECASIA

Vom 4. bis 9. September findet in Cardiff die 14. europäische Konferenz zur Anwendung oberflächenanalytischer Techniken (ECASIA: www.eventsforce.net/iop/frontend/reg/thome.csp) statt. Die Tascon Mitarbeiter Dr. Hektor Hebert, Dr. Daniel Breitenstein sowie Wolfgang Brock werden vor Ort sein und dort über die Ergebnisse unserer Untersuchungen an Nanopartikeln berichten. Gesprächs- und Kontaktwünsche können vor Ort in der Booth unseres Gerätepartners IONTOF (Booth 6) vereinbart werden.

Mai 2011

Tascon auf dem GWP-Werkstoff-Symposium

Am 27.Mai wird das 5. GWP-Werkstoff-Symposium unter dem Motto "Technischer Fortschritt braucht die angewandte Werkstofftechnik" im Novotel München Messe stattfinden. Auf der zugehörigen Begleitmesse wird sich die Tascon GmbH als leistungsstarker Partner im Bereich der Oberflächen- und Materialcharakterisierung präsentieren. Auf Ihre Frage freuen sich unsere Ansprechpartner vor Ort: Dr. R. Kersting und Dr. H. Hebert.

Mai 2011

Roadshow "Biotechnikum" im Münster

"Ihr macht doch so komplizierte Sachen..." hören Tascon-Mitarbeiter öfter mal von Freunden und Verwandten. Dass das nicht stimmt, wird Birgit Hagenhoff in einem öffentlichen Vortrag im Rahmen der Roadshow "Biotechnikum" beweisen. "Unter der chemischen Lupe" heißt es am 2. Mai um 16.45 Uhr im Biotechnikum-Truck (Standort: Freifläche Stubengasse in Münster). Der Eintritt ist frei. Wir freuen uns auf Sie!

März 2011

Otti Seminar "Kleben in der Elektronik"

Auch in diesem Jahr wird die Tascon GmbH am OTTI-Fachforum "Kleben in der Elektronik" in Regensburg mit einem Beitrag vertreten sein. Im Rahmen Ihres Vortrages am 01. März 2011 wird die Geschäftsführerin der Tascon, Dr. Hagenhoff, die Besonderheiten von Klebeprozessen aus der Sicht eines Analytikdienstleisters darstellen, der bei Optimierung von Klebeprozessen und Ursachenforschung bei fehlerhafter Klebeverbindungen behilflich ist.

Dezember 2010

Frohes Neues Jahr 2011

Wir bedanken uns bei allen Kunden für das Vertrauen in 2010 und wünschen allen Besuchern dieser Seite FROHE WEIHNACHTEN und einen guten Start ins neue Jahr!

Unsere Büros in Münster und Sulzbach sind vom 24.12.2010 bis 31.12.2010 nicht besetzt. Ab dem 3.1.2011 sind wir wieder für Sie da.

Ihr tascon-Team.

November 2010

ToF-SIMS / LEIS Einführungsworkshop

Am 24.Novemer 2010 wird ein Workshop mit dem Fokus auf den Analysemethoden ToF-SIMS und LEIS am Department of Materials, Imperial College, London, UK stattfinden. Der Workshop dient dazu, in die Analysetchniken einzuführen, typische Anwendungen vorzustellen und die Kooperation interessierter Arbeitsgruppen im diesem Bereich zu verstärken. Birgit Hagenhoff wird an diesem Workshop teilnehmen und im Rahmen des Vortrags "Characterisation of Nanoparticles by SIMS, LEIS and other techniques: Project NanoPaCT" über die Erfahrungen der Tascon im Bereich der Analytik an Nanopartikeln mit diesen Techniken berichten. Weitere Informationen finden Sie auf folgender Webseite.

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