Schichtanalytik - Mehr über den Aufbau Ihrer Materialien erfahren!

Der Begriff der Schichtanalytik ist eng verwandt mit Begriffen wie Materialanalytik, Oberflächenanalytik und Grenzflächenanalytik. In der Schichtanalytik geht es darum, den chemischen und strukturellen Aufbau von Schichtsystemen und deren Grenzflächen (engl. Interfaces) zum umgebenden Material zu untersuchen. Meist handelt es sich bei den im Rahmen der Schichtanalytik betrachteten Schichten um anorganische Multischichtsysteme (z.B. Laserspiegel, Bond Pads oder Korrosionsschutzschichten). Durch die Verwendung moderner Analysegeräte können heute im Rahmen der Schichtanalytik aber auch organische Schichtabfolgen wie etwa organische Leuchtdioden (OLED) oder Solarzellen (OPV) zielgerichtet untersucht werden.

Anwendungsgebiete der Schichtanalytik

Nicht nur die im Rahmen der Schichtanalytik untersuchten Materialien variieren sehr stark, sondern auch die Dicke der untersuchten Schichten. So finden sich bei den in unseren Laboren untersuchten Schichtstrukturen nicht nur ultradünne metallische ALD-Schichten oder organische SAM-Filme mit Dicken von wenigen Nanometern (nm), sondern auch Korrosionsschutz- und Hartstoffschichten mit vergleichsweise großen Dicken von einigen 10 µm. Aus der Vielfalt der eingesetzten Materialien und Schichtdicken ergibt sich für die Schichtanalytik natürlich eine große Zahl sehr unterschiedlich gelagerter, typischer Fragestellungen, wie folgende Auflistung zeigt:

  • chemische Zusammensetzung oder Reinheit einer Schicht (qualitativ oder quantitativ)
  • Bestimmung der mittleren Dicke einer Schicht
  • Rauheit von Schichten
  • Diffusionsprozesse oder anderweitige Vermischungen von Schichtbestandteilen
  • Bestimmung von Schichtsequenzen (z.B. an Wärmeschutzschichten oder Laminaten)
  • Anreicherungen möglicher Verunreinigungen in Schichten oder Schichtgrenzflächen (Spurenanalytik)
  • Wachstum und Geschlossenheit von Schichten (z.B. ALD-Schichten)
  • Fehleranalytik: Analyse unbekannter Schichtdefekte, die an veränderten makroskopischen Eigenschaften erkennbar sind (z.B. mechanische Stabilität, Abplatzungen, Adhäsionsversagen, Klebeverhalten, Lötbarkeit, optische Eigenschaften).

Um diese Fragestellungen im Rahmen der Schichtanalytik effektiv bearbeiten zu können, stehen in unserem Labor eine Vielzahl von Analysetechniken (REM-EDX, ToF-SIMS, XPS (ESCA), LEIS, Interferometrie, optische Mikroskopie, AFM, FIB, …) zur Verfügung. Darüber hinaus verfügen wir über ein Labornetzwerk, dass es uns ermöglicht Ihnen nahezu alle gängigen Methoden zur Schichtanalytik anbieten zu können.

Tascon ist Ihr neuer Partner für Schichtanalytik

Für eine effektive Schichtanalytik in unserem Labor ist es natürlich notwendig, vorab Informationen über die zu untersuchende Probe, das Schichtsystem und die zu beantwortende Fragestellung zu erhalten. Eine solche Schichtanalytik-Anfrage ist in unserem Labor immer kostenfrei möglich (Kontakt). Auf Basis der in einem persönlichen Gespräch gewonnen Informationen erstellen wir zunächst ein Angebot zur Bearbeitung der Fragestellung im Rahmen der Schichtanalytik. Die für die Schichtanalytik notwendigen Untersuchungen werden in unserem Labor meist innerhalb weniger Werktage nach Probeneingang durchgeführt, so dass ein fertiger Bericht nach ca. 8-10 Werktagen zur Verfügung steht. Bei Rückfragen zu den im Rahmen der Schichtanalytik durchgeführten Messungen, den Auswertungen oder unserer Interpretation der Ergebnisse sind wir natürlich jederzeit ansprechbar. Probieren Sie es aus! Für weitere Fragen stehen wir Ihnen gerne zur Verfügung. Nehmen Sie einfach Kontakt zu Tascon auf.

Begriffe der Analytik
REM Analyse einer Passivierung auf Zn zur Schichtdickenbestimmung
REM Analyse einer Passivierung auf Zink zur Schichtdickenbestimmung
(Mag.: 21.2k x)

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