REM-Bild einer AFM-Spitze

Rasterkraftmikroskopie (AFM)

Die Rasterkraftmikroskopie (engl.: Atomic Force Microscopy) ist eine Methode zur Bestimmung von Oberflächentopographien, bietet darüber hinaus aber auch die Möglichkeit lokal mechanische Eigenschaften (z.B. Materialhärte) zu ermitteln. Wesentlicher Bestandteil eines solchen Mikroskops ist eine an einer Blattfeder (Cantilever) befestigte feine Spitze, mit der die Probe abgerastert wird. Die infolge der Wechselwirkung der Spitze mit einer Oberfläche auftretende Auslenkung des Cantilevers kann mit optischen Verfahren ermittelt und so die Probentopographie im Mikro–und Nanometerbereich bildgebend dargestellt werden. Die Rasterkraftmikroskopie stellt kaum Anforderungen an die zu untersuchende Probenoberfläche. Selbst weiche Materialien wie etwa Zellen in einer Pufferlösung können durch die Wahl eines geeigneten Betriebsmodus (z.B. tapping mode, ...) abgebildet werden.

Über die Bestimmung der Probentopographie hinaus können durch Modfikationen der Rasterspitze auch andere physikalische Größen bestimmt werden. Auf diese Art haben sich eine Vielzahl weiterer Rastersondentechniken entwickelt wie etwa die:

  • Magnetkraftmikroskopie oder Magnetic Force Microscopy (MFM)
  • Chemische Kraftmikroskopie oder Chemical Force Microscopy (CFM)
  • Rasterkapazitätsmikroskopie oder Scanning Capacitance Microscopy (SCM)

Synonyme

  • Atomic Force Microscopy (AFM)
  • Scanning Force Microscopy (SFM)