Tascon-Magazin

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rund um Oberflächen und Grenzflächen.

Photoelektronenspektroskopie

Angle Resolved XPS

Eine gängige Methode, die Oberflächen­empfind­lich­keit der Photoelektronen-Spektroskopie (XPS) weiter zu erhöhen ist die winkelaufgelöste XPS (Angle Resolved XPS). Mit dieser Methode können Elemente als auch deren Bindungszustände analysiert werden.

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