tascon aktuell
Treffen Sie uns auf der Internationalen SIMS Konferenz
Vom 18. bis 23. September findet in Riva del Garda die 18. internationale SIMS-Konferenz statt (www.simsxviii.org/). Dr. Birgit Hagenhoff und Dr. Reinhard Kersting werden dort über unsere Untersuchungen an nanoskaligen Systemen berichten. Sie freuen sich auch über Ihren Besuch auf dem tascon-Stand (Booth 12).
Treffen Sie uns auf der ECASIA
Vom 4. bis 9. September findet in Cardiff die 14. europäische Konferenz zur Anwendung oberflächenanalytischer Techniken (ECASIA: www.eventsforce.net/iop/frontend/reg/thome.csp) statt. Die Tascon Mitarbeiter Dr. Hektor Hebert, Dr. Daniel Breitenstein sowie Wolfgang Brock werden vor Ort sein und dort über die Ergebnisse unserer Untersuchungen an Nanopartikeln berichten. Gesprächs- und Kontaktwünsche können vor Ort in der Booth unseres Gerätepartners IONTOF (Booth 6) vereinbart werden.
Tascon auf dem GWP-Werkstoff-Symposium
Am 27.Mai wird das 5. GWP-Werkstoff-Symposium unter dem Motto "Technischer Fortschritt braucht die angewandte Werkstofftechnik" im Novotel München Messe stattfinden. Auf der zugehörigen Begleitmesse wird sich die Tascon GmbH als leistungsstarker Partner im Bereich der Oberflächen- und Materialcharakterisierung präsentieren. Auf Ihre Frage freuen sich unsere Ansprechpartner vor Ort: Dr. R. Kersting und Dr. H. Hebert.
Roadshow "Biotechnikum" im Münster
"Ihr macht doch so komplizierte Sachen..." hören Tascon-Mitarbeiter öfter mal von Freunden und Verwandten. Dass das nicht stimmt, wird Birgit Hagenhoff in einem öffentlichen Vortrag im Rahmen der Roadshow "Biotechnikum" beweisen. "Unter der chemischen Lupe" heißt es am 2. Mai um 16.45 Uhr im Biotechnikum-Truck (Standort: Freifläche Stubengasse in Münster). Der Eintritt ist frei. Wir freuen uns auf Sie!
Otti Seminar "Kleben in der Elektronik"
Auch in diesem Jahr wird die Tascon GmbH am OTTI-Fachforum "Kleben in der Elektronik" in Regensburg mit einem Beitrag vertreten sein. Im Rahmen Ihres Vortrages am 01. März 2011 wird die Geschäftsführerin der Tascon, Dr. Hagenhoff, die Besonderheiten von Klebeprozessen aus der Sicht eines Analytikdienstleisters darstellen, der bei Optimierung von Klebeprozessen und Ursachenforschung bei fehlerhafter Klebeverbindungen behilflich ist.
ToF-SIMS / LEIS Einführungsworkshop
Am 24.Novemer 2010 wird ein Workshop mit dem Fokus auf den Analysemethoden ToF-SIMS und LEIS am Department of Materials, Imperial College, London, UK stattfinden. Der Workshop dient dazu, in die Analysetchniken einzuführen, typische Anwendungen vorzustellen und die Kooperation interessierter Arbeitsgruppen im diesem Bereich zu verstärken. Birgit Hagenhoff wird an diesem Workshop teilnehmen und im Rahmen des Vortrags "Characterisation of Nanoparticles by SIMS, LEIS and other techniques: Project NanoPaCT" über die Erfahrungen der Tascon im Bereich der Analytik an Nanopartikeln mit diesen Techniken berichten. Weitere Informationen finden Sie auf folgender Webseite.
Einführungsseminar in die Flugzeitsekundärionenmassenspektrometrie (ToF-SIMS) während der Tagung SIMS Europe
Die Flugzeitsekundärionenmassenspektrometrie (ToF-SIMS) ist eines der leistungsfähigsten Analyseverfahren in der modernen Oberflächenanalytik. In Kooperation mit den Veranstaltern der SIMS Europe bietet die Tascon eine ganztägige Einführung in das ToF-SIMS Verfahren an. Das Seminar wird am 19.09.2010 ab 09:15 im Hörsaal des Physikalischen Instituts der Universität Münster durchgeführt und in die Grundlagen und Applikationen der ToF-SIMS einführen. Das Programm richtet sich bewusst an ToF-SIMS interessierte Einsteiger. Die Teilnahme an dieser Einführungsveranstaltung ist für Teilnehmer der SIMS Europe (Tagungsgebühr 100€) kostenfrei.
HS-LEIS als analytisches Werkzeug zur Charakterisierung heterogener Katalysatoren (ECOSS 2010)
Tascon wird auf der 27. "European Conference on Surface Science" (ECOSS) vom 29.August bis 03.September in Groningen, NL vertreten sein. Dr. Rik ter Veen wird in der Sitzung 'Surface chemical reactions and heterogeneous catalysis' über die Anwendung der LEIS (Low Energy Ion Scattering = niederenergetische Ionenstreuung) am Beispiel einer Studie an gamma-Al2O3 gestützten Katalysatoren berichten.
"Summer School on Materials Characterisation" des CCMX
Dr. Michael Fartmann wird die Tascon bei der diesjährigen "CCMX Summer School on Materials Characterisation" der EPFL in Lausanne vertreten. Im Rahmen dieses Seminars wird er die Flugzeitsekundärionenmassenspektrometrie (ToF-SIMS) als vielfältiges analytisches Werkzeug vorstellen und Ihnen auch im Hinblick auf Ihre konkreten Fragestellungen gerne Rede und Antwort stehen.
"Kleben in der Mikrofertigung"
Klebprozesse sind wesentlicher Bestandteil vieler Fertigungsabläufe. Im Rahmen des diesjährigen OTTI-Fachforums "Kleben in der Elektronik" wird Dr. Hektor Hebert über die Besonderheiten von Klebeprozessen aus der Sicht eines Analytikdienstleisters berichten. Der Vortrag wird u.a. zeigen, wie Klebeprozesse durch den gezielten Einsatz analytischer Methoden optimiert und Ursachen fehlerhafter Verklebungen ermittelt werden können.