Leistungsdaten der Infrarotspektroskopie
| Prinzip: | Anregung der Oberfläche mit Infrarotstrahlung, Nachweis der reflektierten bzw. transmittierten Strahlung; durch Absorption der Strahlungsenergie in Schwingungen von Molekülgruppen der Probenmolekülen kommt es zu Intensitätsschwächungen bei entsprechenden Wellenlängen |
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| Nachweis: | - Baugruppen, der in der Probe befindlichen Verbindungen (z.B. Silikat, ...) - kein Nachweis von Elementen - kein Nachweis von Molekülen |
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| Informationstiefe: | µm-Bereich; jedoch oberflächenempfindlicher bei bestimmten Messanordnungen (z.B. Totalreflexion) |
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| Quantifizierung: | möglich | |
| Nachweisgrenzen: | Monolage |
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| Besonderheiten: | Imaging | IR-Mikroskopie: - Bildfelder: ca. 100x100 µm² ...einige mm² - Auflösungsvermögen: einige µm |
| Proben- anforderungen |
- geringe Topographie - Analyse von Mischsystemen eingeschränkt möglich |
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